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基于超像素和渐进式低秩表示的高光谱图像异常检测方法技术
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下载基于超像素和渐进式低秩表示的高光谱图像异常检测方法的技术资料
文档序号:32182562
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本发明提出了一种基于超像素和渐进式低秩表示的高光谱图像异常检测方法,主要针对现有低秩表示过程中构建的背景字典纯净度低且不全面,检测结果不佳的问题。包括:采用基于正交投影散度的超像素分割法对待测高光谱图像进行分割,得到同质区域集;再以所得同质...
该专利属于西安电子科技大学所有,仅供学习研究参考,未经过西安电子科技大学授权不得商用。
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