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本发明涉及超短激光脉冲测量技术领域，尤其涉及一种双色超短激光脉冲特性测量方法及测量装置，以解决现有的激光测量方法在测量光谱跨度超过一个倍频程的多束激光时，测量方法繁复且光谱测量范围存在无法全覆盖的问题。本发明将双色超短激光脉冲通过双D镜延时...
该专利属于中国科学院西安光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院西安光学精密机械研究所授权不得商用。

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