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本发明提供了一种利用电子设计自动化（ＥＤＡ）工具和设计测试站的组合体、高速和低成本地验证复合集成电路的设计的方法。ＥＤＡ工具和器件模拟器与基于事件的测试系统连接，以便执行原始设计模拟向量和测试台并对测试台和基于事件的测试向量进行修改，一直到...
该专利属于株式会社鼎新所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社鼎新授权不得商用。

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