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北京迈格威科技有限公司
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目标检测方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸
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文档序号:32164363
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本申请实施例提供了目标检测方法、装置,该方法包括:获取待检测图像;对待检测图像进行特征提取,得到待检测图像对应的单尺度特征;基于待检测图像对应的单尺度特征进行空洞卷积处理,得到待检测图像对应的多尺度特征;基于待检测图像对应的多尺度特征,预测...
该专利属于北京迈格威科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京迈格威科技有限公司授权不得商用。
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