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本发明涉及一种FPGA寿命试验方法，属于FPGA芯片的寿命试验技术领域。该方法执行如下步骤：1）设置寿命试验电路的各项配置；2）设置试验所需的外部激励条件；3）利用内插环振电路对器件结温进行测量以实现对输入时钟工作频率进行反馈修改与迭代优化...
该专利属于北京中科胜芯科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京中科胜芯科技有限公司授权不得商用。

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