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本发明涉及一种基于多疲劳模式耦合的功率半导体器件寿命预测方法，针对功率半导体器件不同疲劳模式建立寿命预测模型；获得功率半导体器件不同疲劳失效模式下的疲劳寿命模型参数数据并带入寿命预测模型中；建立功率半导体器件电热耦合模型获取电热循环工况参数...
该专利属于中国人民解放军海军工程大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国人民解放军海军工程大学授权不得商用。

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