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金属氧化物半导体场效应晶体管及其制造方法技术
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文档序号:3212000
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本发明涉及一种金氧半场效应晶体管(MOSFET)及其制造方法,其特征为半导体基底中有一沟道,信道区系为一跨越沟道的掺杂半导体层,而栅极则位于沟道中与沟道上方,并隔着栅介电层环绕信道区。此栅极与沟道的侧壁及底部之间分别以一间隙壁及一绝缘层相隔...
该专利属于华邦电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过华邦电子股份有限公司授权不得商用。
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