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本发明涉及一种可在集成器件内精确测量组件电气特性参数的电路，其特征在于，测试电路包括误差累计电路和数字误差测量电路两部分，误差累计电路采用与集成电路内部的器件或各种电气参数构造与相关参数呈一定函数关系的振荡器，使得振荡器的频率与相应电参数呈...
该专利属于尹登庆所有，仅供学习研究参考，未经过尹登庆授权不得商用。

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