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本实用新型属于二极管检测设备技术领域，尤其为一种用于波封二极管的玻璃外壳杂质检测装置，包括操作箱，所述操作箱的一侧设置有料箱，所述料箱的顶部设置有进料斗，所述操作箱的两侧内壁上固定安装有同一个方杆，所述方杆的外侧活动套设有移动块，所述操作箱...
该专利属于四川蜀伦欣电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过四川蜀伦欣电子有限公司授权不得商用。

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