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本发明提供一种防静电破坏的ＩＣ元件测试系统，可防止ＩＣ元件于测试时遭静电破坏；该ＩＣ元件测试系统包含有一温度控制炉与一ＩＣ元件测试板；该ＩＣ元件测试板包含有一虚置导线与一接地介面，可将ＩＣ元件测试板因载入／载出一温度控制炉门上耐高温材料的动...
该专利属于联华电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过联华电子股份有限公司授权不得商用。

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