下载使用整合式度量的串级控制方法及装置的技术资料

文档序号:3205945

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本发明揭示了一种对半导体晶片的处理执行串级控制的方法及装置。接收第一半导体晶片以供处理。接收第二半导体晶片以供处理。对该第一及该第二半导体晶片执行串级处理作业,其中该串级处理作业包含下列步骤:在正在处理该第一半导体晶片的一段时间中的至少一部...
该专利属于先进微装置公司所有,仅供学习研究参考,未经过先进微装置公司授权不得商用。

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