下载低介电常数绝缘介质氧化硅薄膜及其制备方法的技术资料

文档序号:3204698

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本发明公开了一种低介电常数绝缘介质氧化硅薄膜,该薄膜由具有通式为SiO↓[x]R↓[y]的材料制成;薄膜中的化学键是Si-O键、Si-C键和C-H键;薄膜含有纳米微孔。该薄膜的制备方法是:用单端基倍半硅氧烷有机物作为致孔模板与硅氧烷在有机溶...
该专利属于南京大学所有,仅供学习研究参考,未经过南京大学授权不得商用。

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