下载金属硅化物膜的制作方法和金属氧化物半导体器件的技术资料

文档序号:3204688

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本发明利用原子层淀积(ALD)方法提供了金属膜,它包含ⅣB或ⅤB族金属、硅、以及可选的氮。确切地说,本发明提供了一种形成金属硅化物的低温热ALD方法以及一种形成金属氮硅化物膜的等离子体增强原子层淀积(PE-ALD)方法。本发明的方法能够在衬...
该专利属于国际商业机器公司所有,仅供学习研究参考,未经过国际商业机器公司授权不得商用。

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