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转塔式半导体分立器件测试设备制造技术
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文档序号:32038090
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本实用新型公开一种转塔式半导体分立器件测试设备,基座上有位于同一圆周轨迹等距离的多个测试站,基座上方有可旋转主塔,主塔下方有与测试站距离匹配的多个吸嘴,被测试器件输送轨道出口与测试站之间还有方向校正座,基座还有光纤固定支座,光纤固定支座上有...
该专利属于汕头华汕电子器件有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过汕头华汕电子器件有限公司授权不得商用。
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