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本发明提供了一种红外分焦平面偏振探测系统定标方法，所述方法包括：在进行微位移辐射定标和微位移偏振定标之前进行设备准备；对分焦平面探测系统进行微位移辐射定标，拟合出增益系数与偏执系数，求出背景噪声，得到微位移辐射校正后的响应图像；微位移辐射定...
该专利属于上海济物光电技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海济物光电技术有限公司授权不得商用。

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