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紫外线擦除型半导体存储装置制造方法及图纸
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文档序号:3200787
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本发明提供一种可以通过紫外线擦除保存的数据的紫外线擦除型半导体存储装置。使构成存储单元的2个MOSFET中一个的沟道宽度W↓[A]比另一个的沟道宽度W↓[B]窄地形成。由此,在照射紫外线后的初始化状态中,具有沟道宽度W↓[A]的MOSFET...
该专利属于三洋电机株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过三洋电机株式会社授权不得商用。
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