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在半导体衬底上设置具有开口部分42的层间绝缘膜41。向开口部分42内填埋以Cu为主要成分的布线本体层46。在开口部分内在层间绝缘膜41与布线本体层46之间存在有势垒膜44,势垒膜44以规定的金属元素和层间绝缘膜41的构成元素之间的化合物为主...该专利属于半导体理工学研究中心股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过半导体理工学研究中心股份有限公司授权不得商用。
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在半导体衬底上设置具有开口部分42的层间绝缘膜41。向开口部分42内填埋以Cu为主要成分的布线本体层46。在开口部分内在层间绝缘膜41与布线本体层46之间存在有势垒膜44,势垒膜44以规定的金属元素和层间绝缘膜41的构成元素之间的化合物为主...