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本发明揭示用来利用如皮秒成像电路分析（ＰＩＣＡ）增强响应集成电路（ＩＣ）内信号的光子发射以便观察信号状态的方法和设备。实施例中将置标连结到感兴趣的信号，并跨该置标施加电压以增强响应感兴趣的信号的光子发射。该电压大于可操作电路电压，Ｖｄｄ，从...
该专利属于国际商业机器公司所有，仅供学习研究参考，未经过国际商业机器公司授权不得商用。

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