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一种测试在超导材料层中形成的超导线圈路径的方法。在具有大体曲表面的模架（６）上提供所述材料。该方法包括扫描所述层以检测所述层中的缺陷的步骤。...
该专利属于涂层导体柱体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过涂层导体柱体有限公司授权不得商用。

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