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制造掺杂氮的介电层的方法技术
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文档序号:3191279
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本发明提供一种制造掺杂氮的介电层的方法。根据该方法,先于半导体基底上形成一介电层后,对该介电层进行两阶段的氮化工艺,接着进行一到两阶段的退火工艺。由于利用该方法所形成的介电层中的氮分布较为均匀,因此该介电层具有较优越的电性。...
该专利属于联华电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过联华电子股份有限公司授权不得商用。
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