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本实用新型公开了一种半导体器件测试设备，涉及半导体器件测试领域，目的在于实现多个半导体同时放入测试设备进行测试，包括远程计算机、报警模块、显示模块、主控模块、通道切换模块、地址译码器、地址寄存器和多个检测模块，每个检测模块前端连接有监测探针...
该专利属于郑州联创电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过郑州联创电子有限公司授权不得商用。

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