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本发明公开了一种基于结构光的3D量测方法与系统，其方法包括：构建N幅编码图像，编码图像中同一横坐标的条纹光强值相同，N幅编码图像在横坐标x
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该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

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