温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开了一种全自动晶圆测试方法及实现该测试方法的设备,该方法包含扫描片盒、取片、粗调、送片、精确对准、测试与放回晶圆各步骤,实现全自动晶圆测试方法的设备,它包括在机架上设置的置片及数片装置,在置片及数片装置一侧的机架上设有晶圆传输装置,...该专利属于无锡市易控系统工程有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过无锡市易控系统工程有限公司授权不得商用。
温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开了一种全自动晶圆测试方法及实现该测试方法的设备,该方法包含扫描片盒、取片、粗调、送片、精确对准、测试与放回晶圆各步骤,实现全自动晶圆测试方法的设备,它包括在机架上设置的置片及数片装置,在置片及数片装置一侧的机架上设有晶圆传输装置,...