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透射电镜中一维纳米材料测试载片属于纳米材料性能原位检测领域。该载片包括中心金属片（１）、两个附耳（２）、狭缝（３）、扇形燕尾槽（４）、沿狭缝（３）对称分布的至少２０个圆形栅孔（５）；分布于中心金属片（１）左右两侧且处于同一直径上的两个附耳（...
该专利属于北京工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京工业大学授权不得商用。

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