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本实用新型公开了一种SOC芯片测量设备，包括箱体，所述箱体的两侧内壁之间固定连接有第一隔板，第一隔板的顶部设有测量台，所述箱体的底部内壁固定连接有风箱，风箱的两侧内壁开设有滑槽，滑槽内活动连接有集尘箱，集尘箱穿过箱体的一侧，所述箱体和风箱的...
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