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本发明涉及一种电致发半导体光板材表面缺陷AI检测方法，所述方法步骤包括进行第一次图像增强处理、进行图像缺陷标注和转化、训练验证测试图像的随机分配、进行第二次图像增强处理、建立目标检测神经网络、进行数据训练获得最佳权重参数、板材图像AI检测。...
该专利属于陈博源所有，仅供学习研究参考，未经过陈博源授权不得商用。

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