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用于介电材料中应力的表征方法，包括：经由平行调制、第一前偏振调制、聚焦调制对源太赫兹波进行第一调制并使其穿过试样的一区域后经由平行调制、第一后偏振调制、聚焦调制后作为第一信号被接收；经由平行调制、第二前偏振调制、聚焦调制对源太赫兹波进行第二...
该专利属于天津大学所有，仅供学习研究参考，未经过天津大学授权不得商用。

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