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本发明公开了一种高浓度氚测量探测器及其测量方法，所述探测器包括：测量室组件、X射线探测器和探测器真空组件；所述测量方法包括待测气体的不同组分的测量方法及测量室镀金后的测量方法，其主要通过X射线探测器测量氚β射线诱发的X射线的能谱总强度，之后...
该专利属于中国工程物理研究院核物理与化学研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国工程物理研究院核物理与化学研究所授权不得商用。

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