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质量分析装置以及质量分析方法制造方法及图纸
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文档序号:3148738
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本发明提供一种质量分析计以及质量分析方法,实现排出效率高、质量分辨率高且排出能量低的线性阱,在导入由离子源生成的离子且具备具有入口、出口且施加有高频电压的四极杆电极的质量分析计中,利用在四极电场的中心轴上形成的阱电势来囚禁至少该离子的一部分...
该专利属于株式会社日立制作所所有,仅供学习研究参考,未经过株式会社日立制作所授权不得商用。
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