专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
电子科技大学
>
一种基于电阻抗成像的涡流热成像缺陷重构方法技术
>技术资料下载
下载一种基于电阻抗成像的涡流热成像缺陷重构方法的技术资料
文档序号:31485778
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开了一种基于电阻抗成像的涡流热成像缺陷重构方法,首先采集加热阶段的热图像序列,通过对热图像序列中的像素点进行曲线拟合,得到温度随时间变换的参考图像,然后从中提取出电流矩阵和磁势矩阵,并根据迭代公式求出满足条件的电导率分布,从而得到表...
该专利属于电子科技大学所有,仅供学习研究参考,未经过电子科技大学授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。