温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

公开一种电容计算方法以及基板的厚度计算方法。电容计算方法可以包括：利用电容测量装置测量多个测量电容的步骤；计算针对与多个测量电容中的每一个相对应的蒸镀参数的多个蒸镀系数、针对与多个测量电容中的每一个相对应的曝光参数的多个曝光系数以及针对与多...
该专利属于三星显示有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过三星显示有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。