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本申请公开了一种连接检测装置及第一设备，属于电子电路技术领域。所述连接检测装置应用于第一设备，第一设备包括第一连接端，第一连接端用于与第二设备连接，第二设备具有第一磁体。所述装置包括霍尔开关HST和第二磁体；霍尔开关HST和第二磁体位于第一...
该专利属于深圳市冠旭电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市冠旭电子股份有限公司授权不得商用。

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