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本实用新型公开了一种具有测试件保护结构的双工位测试机，包括机体组件、夹持机构和传感器组件，夹持机构，其安装在所述机体组件的内壁下方；传感器组件，其设置在所述机体组件的内壁两侧；升降组件，其设置在所述机体组件的内壁上方；测电组件，其安装在所述...
该专利属于深圳市华测半导体设备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市华测半导体设备有限公司授权不得商用。

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