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本申请提供一种触摸芯片的测试方法、装置、计算机设备和存储介质，所述方法包括：获取触摸芯片的触摸参数集合；根据所述触摸参数集合构建目标二叉树；从所述目标二叉树中挑选不同的两组目标触摸参数组合对触摸芯片进行循环对比测试，并根据每次对比测试的结果...
该专利属于四川中微芯成科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过四川中微芯成科技有限公司授权不得商用。

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