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本发明的目的是提供一种将具有内部缺陷的叠层陶瓷电容器高精度筛选的方法。为了达成此目的，在介质陶瓷的有效层（８）中存在缺陷部分（１２）的叠层陶瓷电容器（１）的外部电极（６）之间叠加直流恒定电流、将外部电极（６）间的电压升高、在电压曲线（１１）...
该专利属于松下电器产业株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过松下电器产业株式会社授权不得商用。

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