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本实用新型涉及一种测试稳定有效的半导体器件用测试座，包括底座、陶瓷固定座、PCB基板和测试片组件；所述底座上依次设有陶瓷固定座、PCB基板和测试片组件；所述陶瓷固定座的顶部穿过PCB基板；所述待测芯片设置在陶瓷固定座上；所述测试片组件的一端...
该专利属于苏州朗之睿电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州朗之睿电子科技有限公司授权不得商用。

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