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【课题】能够在短时间之内，并且容易地检测出双电荷层电容器的劣化。【解决方法】在被完全充电的双电荷层电容器１１上接通放电电阻Ｒｄ，测定按照规定时间接通该放电电阻Ｒｄ之后的电压。然后，根据该测定的电压与双电荷层电容器１１的放电特性判定寿命。...
该专利属于株式会社佳和电所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社佳和电授权不得商用。

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