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本发明涉及荧光寿命检测技术领域，尤其为一种基于过渡金属离子荧光寿命的温度检测装置，包括温度检测设备箱和温控箱，所述温度检测设备箱外侧一端固定连接有内置呈上下分布的温控设备的温控箱，所述温度检测设备箱外侧另一端均固定连接有限位装置，所述观察板...
该专利属于河北地质大学所有，仅供学习研究参考，未经过河北地质大学授权不得商用。

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