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本公开关于功能测试方法、装置、电子设备和存储介质，所述方法包括：响应于应用程序的功能测试需求，提取与功能测试需求对应的待测功能的参数；基于账户库中账户的功能参数，从账户库中确定出与待测功能的参数相匹配的候选账户，其中，账户库中账户的功能参数...
该专利属于北京达佳互联信息技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京达佳互联信息技术有限公司授权不得商用。

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