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本实用新型涉及一种测试效果好的半导体器件用固定测试组件，包括陶瓷固定座和测试片组件；待测芯片设置在陶瓷固定座上；测试片组件的一端引脚与陶瓷固定座上的待测芯片电连接，另一端引脚与测试PCB基板电连接；测试片组件包括对称设置的两个测试片机构；测...
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