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本发明公开了一种镀膜玻璃薄膜缺陷的光学检测系统及其检测方法,包括镀膜玻璃、底座及传感器,其特征在于,底座的顶端中间部位安装有机体,机体的底端与底座固定连接,机体的一侧中间部位安装有控制开关,控制开关与机体固定连接,控制开关的两侧分别安装有散...该专利属于深圳市鼎鑫盛光学科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市鼎鑫盛光学科技有限公司授权不得商用。
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本发明公开了一种镀膜玻璃薄膜缺陷的光学检测系统及其检测方法,包括镀膜玻璃、底座及传感器,其特征在于,底座的顶端中间部位安装有机体,机体的底端与底座固定连接,机体的一侧中间部位安装有控制开关,控制开关与机体固定连接,控制开关的两侧分别安装有散...