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本发明描述用于使用电磁辐射测量材料层的厚度的系统及方法实施例。在一些实施例中，一种系统包含辐射源，所述辐射源经配置以将第一辐射引导朝向材料层的第一表面，所述材料层具有在所述第一表面和与所述第一表面相对的第二表面之间的厚度。所述第一辐射使所述...
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