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本发明提供的一种基于电子元件性能数据的检测方法及系统，涉及数据处理技术领域。在本发明中，基于获取的性能检测设备对多个待检测的电子元件分别进行的多次性能检测处理得到的多组性能检测数据进行解析处理，得到每一个电子元件的性能是否存在异常的解析结果...
该专利属于段华所有，仅供学习研究参考，未经过段华授权不得商用。

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