下载一种电子芯片裂缝检测机构的技术资料

文档序号:30977517

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本实用新型公开了一种电子芯片裂缝检测机构,其包括:下基块、上基块及驱动所述上基块上下移动的升降机构;所述上基块下端面设第一反光罩、第一光照灯,所述下基块上端面设第二反光罩、第二光照灯;第一反光罩、第二反光罩采用光电池制,并与设于所述上基块、...
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