下载局部缺陷内存的处理方法和系统的技术资料

文档序号:3086537

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。

一种局部缺陷内存的处理方法,扫描此原始程序代码,在缺陷存储单元所对应的缺陷地址前后,定出第一分断点和第二分断点。移动之间的区段程序代码到程序代码的不对应缺陷地址的第一地址和第二地址间。连接移动后的区段程序代码与原始程序代码中未移动部分的执行...
该专利属于华邦电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过华邦电子股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。