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本发明提供一种方法（２２）以及系统，用来校验存储单元的擦除，此方法与装置可使用于双位存储单元结构体系中。此方法（２２）包含：选择性校验存储单元的第一位（２６，２８）和存储单元的第二位（３０，３２）的其中一个的适度擦除；若该存储单元的第一和第...
该专利属于斯班逊有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过斯班逊有限公司授权不得商用。

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