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由于一次写入存储器只能够进行一次写入，所以，不可通过实际的写入检查检出坏位。因此，不可如上所述那样采取设置冗余电路以在修复坏位之后才出货的措施，因而，难以提供缺陷较少的存储器。本发明的目的在于提供一种缺陷概率大幅度降低的一次写入存储器。本发...
该专利属于株式会社半导体能源研究所所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社半导体能源研究所授权不得商用。

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