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本实用新型公开了一种可实现芯片测试后自动分类的测试设备，包括设备外壳、固定板、安装块、放置孔、杆套、伸缩杆、检测块、驱动电机、丝杆、导向杆、第一收集孔、第一收集箱、第二收集孔、第二收集箱、气缸、挡板、固定块和连接块，所述设备外壳的内部固定有...
该专利属于深圳市北辰电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市北辰电子有限公司授权不得商用。

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