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本发明涉及一种可有效降低误销毁概率的存储设备,属于存储领域。本发明的开盖检测单元连接微动开关,在存储设备的紧固螺钉下增加微动开关,开盖检测单元用于通过微动开关检测各紧固螺钉的旋入、旋出,输出开盖监测结果;销毁控制单元连接开盖检测单元,用于根...该专利属于北京计算机技术及应用研究所所有,仅供学习研究参考,未经过北京计算机技术及应用研究所授权不得商用。
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本发明涉及一种可有效降低误销毁概率的存储设备,属于存储领域。本发明的开盖检测单元连接微动开关,在存储设备的紧固螺钉下增加微动开关,开盖检测单元用于通过微动开关检测各紧固螺钉的旋入、旋出,输出开盖监测结果;销毁控制单元连接开盖检测单元,用于根...