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本发明公开了一种基于太赫兹时域光谱的绝缘子污秽度检测方法及装置，包括配置不同质量NaCl的绝缘子污秽样品；计算不同质量NaCl的绝缘子污秽样品的等值盐密；通过反射式太赫兹时域光谱仪对绝缘子污秽样品的等值盐密进行检测，得到绝缘子污秽样品的太赫...
该专利属于云南电网有限责任公司电力科学研究院所有，仅供学习研究参考，未经过云南电网有限责任公司电力科学研究院授权不得商用。

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